為更好的做好設(shè)備，不斷進(jìn)行實(shí)驗(yàn)是必有之路，昨日忙了一整天，對(duì)用戶提供的N42M進(jìn)行**測(cè)量，考察不同厚度、不同極頭材料對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的影響。
一、樣品制備：樣品直徑12.15mm，無鍍層，加工：線切割成不同厚度，平磨處理。1#樣品厚度：20.87mm、2#樣品厚度：9.93mm、3#樣品厚度：7.49mm。
二、脈沖充磁機(jī)充磁磁場(chǎng)：8.1T ，對(duì)測(cè)試樣品測(cè)試前進(jìn)行飽和磁化。
三 、測(cè)試實(shí)驗(yàn)
1、采用純鐵極頭測(cè)試（極面直徑140mm收縮到100mm），測(cè)試溫度：20±1℃，測(cè)量時(shí)間：120s測(cè)試結(jié)果如下：
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樣品
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Br(T)
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Hcb(kA/m)
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Hcj(kA/m)
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Hk( kA/m)
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BHmax(kJ/m3)
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Hmax（kA/m）
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3#-2
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1.336
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972.3
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1113
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1016
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338.2
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1446
|
|
3#-1
|
1.334
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971.5
|
1113
|
1016
|
337.5
|
1266
|
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2#-2
|
1.343
|
974.5
|
1113
|
1012
|
340.2
|
1530
|
|
2#-1
|
1.341
|
973.9
|
1114
|
1013
|
339.6
|
1532
|
|
1#-2
|
1.340
|
975.2
|
1105
|
1018
|
340.4
|
1141
|
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1#-1
|
1.343
|
977.5
|
1106
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1021
|
342.1
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1145
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實(shí)驗(yàn)證明：考慮加工可能存在差異，以及測(cè)試設(shè)備自身不確定度存在。但長(zhǎng)度對(duì)測(cè)試的影響看不出，以前教科書上要求樣品長(zhǎng)度大于8mm沒有搞清楚其原因，原文為“為保證樣品在磁場(chǎng)的1%的均勻區(qū)內(nèi)，試樣的幾何尺寸的大小與電磁鐵極頭之間的關(guān)系為：D>d+l.2L、D>2L，其中試樣的長(zhǎng)度L要求大于8mm”。
2、采用鐵鈷合金極頭測(cè)試（極面直徑140mm收縮到60mm），測(cè)試溫度：20±1℃，測(cè)量時(shí)間：120s測(cè)試結(jié)果如下：
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樣品
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Br(T)
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Hcb(kA/m)
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Hcj(kA/m)
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Hk(kA/m)
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BHmax(kJ/m3)
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Hmax（kA/m）
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|
3#-02
|
1.338
|
974.8
|
1115
|
1021
|
339.4
|
1309
|
|
3#-01
|
1.338
|
975.1
|
1116
|
1022
|
339.6
|
1309
|
|
2#-02
|
1.341
|
975.5
|
1114
|
1017
|
340.1
|
1469
|
|
2#-01
|
1.341
|
974.2
|
1113
|
1015
|
339.7
|
1465
|
|
1#-02
|
1.34
|
973.7
|
1098
|
1012
|
340.3
|
1143
|
|
1#-01
|
1.348
|
978.7
|
1102
|
1014
|
344.2
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1148
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實(shí)驗(yàn)證明：至少N42M材料，采用鐵鈷合金極頭和采用純鐵極頭沒有明顯差異。以前與同行比對(duì)，測(cè)試過高內(nèi)稟矯頑力材料Hk在兩種極頭材料的情況下存在差異，是否以前測(cè)試有問題？后期準(zhǔn)備將N38SH降低厚度去掉鍍Ni包裹層，滿足現(xiàn)有設(shè)備純鐵極頭測(cè)量，再進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。
3、下午采用鐵鈷合金極頭測(cè)試3#樣品，改變測(cè)試時(shí)間，測(cè)試結(jié)果如下：
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測(cè)試時(shí)間
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Br(T)
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Hcb(kA/m)
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Hcj(kA/m)
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Hk(kA/m)
|
BHmax(kJ/m3)
|
Hmax（kA/m）
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|
3#-30s
|
1.331
|
969.7
|
1113
|
1014
|
335.9
|
1451
|
|
3#-40s
|
1.332
|
969.5
|
1104
|
1013
|
336.2
|
1126
|
|
3#-60s
|
1.333
|
971.6
|
1116
|
1019
|
337
|
1224
|
|
3#-90s
|
1.333
|
970.3
|
1104
|
1011
|
337.2
|
1300
|
|
3#-120s
|
1.334
|
969.7
|
1100
|
1008
|
337.6
|
1323
|
|
3#-180s
|
1.333
|
970.3
|
1102
|
1011
|
337.4
|
1348
|
|
3#-240s
|
1.331
|
969.7
|
1100
|
1012
|
336.7
|
1362
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實(shí)驗(yàn)證明：與上午3#比較整體性能稍微偏低，分析應(yīng)該是測(cè)試溫度引起的差異。但可以排除由于掃描時(shí)間快慢引入的測(cè)試偏差。如果可以，將讓我們的用戶合理提高測(cè)試速度，提高設(shè)備效率。注意：要提高測(cè)試速度，設(shè)定的測(cè)試電壓需要更高，這是常識(shí)。
**實(shí)驗(yàn)做下來，獲得一些我想要求證的結(jié)果，不同厚度影響和測(cè)試時(shí)間影響較小；沒有獲得不同極頭材料對(duì)測(cè)試Hk影響較大（這是我希望發(fā)生的），所以還需要進(jìn)一步做**cj的材料實(shí)驗(yàn)。
